台阶仪（Xp-100）

主要功能：用于微槽及微结构的深度/高度测量。

主要指标：探针曲率半径：2.5um

样品厚度：≤20mm

垂直扫描范围：≤1200um

垂直分辨率：0.38埃

厂 家：Ambios Technnology Inc.