膜厚测试仪（SR-2）

主要功能：用于二氧化硅、氮化硅等透明薄膜的厚度检测。

主要指标：光谱范围：380-1050nm

分辨率：2.5nm

光谱感应：21000 A/D Count@425nm

光谱稳定度：<0 .05nm

厂 家：Radiation Technology Co., Ltd.